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Uso di tecniche ESCA e RBS per la caratterizzazione di un film di ossidi di cobalto e cromo deposto su vetro 1-gen-1981 Puglisi, O.; Torrisi, Alberto file da validare
Formazione di ioni positivi e negativi per impatto elettronico in spettrometria di massa 1-gen-1981 S., Pignataro; Torrisi, Alberto file da validare
Nuclear and Electronic Energy Loss of Noble Gas Ions Bombarding Solid Benzene and Relative Chemical Effects 1-gen-1982 Puglisi, O.; Marletta, G.; Torrisi, Alberto file da validare
Preparation and ESCA characterization of poly(vinyl chloride) surface-grafted with heparin-complexing poly(amido amine) chains 1-gen-1982 Ferruti, P.; Barbucci, R.; Danzo, N.; Torrisi, Alberto; Puglisi, O.; Pignataro, S.; Spartano, P. file da validare
Application of ESCA to fabrication problems in semiconductor industry 1-gen-1982 Torrisi, Alberto; Pignataro, S.; Nocerino, G. file da validare
Nuclear and electronic energy loss of noble gas ions bombarding solid benzene and related chemical effects 1-gen-1982 Puglisi, O.; Marletta, Giovanni; Torrisi, A.; Foti, G.; Torrisi, L. file da validare
ESCA study of the adhesion of Ag, Cu and Ni to polysiloxane resins used in the semiconductor industry 1-gen-1983 Torrisi, Alberto; Marletta, G; Puglisi, O; Pignataro, S. file da validare
Oxygen Depletion in Electron Beam Bombarded Glass Surfaces Studied by XPS 1-gen-1983 Puglisi, O.; Marletta, Giovanni; Torrisi, Alberto file da validare
ESCA Study of the Adhesion of Ag, Cu and Ni to Polysiloxane Resins Used on the Semiconductor Industry 1-gen-1983 Torrisi, Alberto; Marletta, Giovanni; Puglisi, O.; Pignataro, S. file da validare
Studi ESCA della struttura chimica di interfaccia in problemi di adesione 1-gen-1983 Marletta, Giovanni; Torrisi, Alberto; Pignataro, S. file da validare
Electrical conductivity of InAs thin films 1-gen-1984 G., Burrafato; N. A., Mancini; S., Santagati; S. O., Troja; Torrisi, Alberto; Puglisi, O. file da validare
Fenomeni interfacciali in sistemi metallo-resina di interesse nell'industria dei semiconduttori 1-gen-1984 Torrisi, Alberto; Pignataro, S. file da validare
XPS investigation of the effects induced by the silanization on real glass surfaces 1-gen-1984 Puglisi, O.; Torrisi, Alberto; Marletta, Giovanni file da validare
Electrical properties of Electron-Gun Evaporated InAs Thin Films 1-gen-1984 Burrafato, G.; Mancini, N. A.; Santagati, S.; Troja, S. O.; Torrisi, Alberto; Puglisi, O. file da validare
INTERFACIAL CHEMISTRY AT REAL RESIN-METAL INTERFACES OF ELECTRONIC DEVICES 1-gen-1985 Pignataro, S; Torrisi, Alberto; Ferla, G. file da validare
KINETICS OF BROMINE MIGRATION AND COPPER REACTIONS AT COPPER EPOXY-RESIN INTERFACES 1-gen-1986 Torrisi, Alberto; Pignataro, S. file da validare
RADIATION-ENHANCED DIFFUSION OF NA IN ALKALINE GLASSES 1-gen-1986 Puglisi, O; Marletta, Giovanni; Torrisi, Alberto file da validare
INFLUENCE OF SURFACE CHEMICAL-COMPOSITION ON THE RELIABILITY OF AL CU BOND IN ELECTRONIC DEVICES 1-gen-1986 Pignataro, S; Torrisi, Alberto; Puglisi, O; Cavallaro, A; Perniciaro, A; Ferla, G. file da validare
NI SURFACE-CHEMISTRY AND QUALITY OF THE AL/NI BOND IN ELECTRONIC DEVICES 1-gen-1987 Torrisi, Alberto; Cavallaro, A; Licciardello, Antonino; Perniciaro, A; Pignataro, S. file da validare
ESCA and SIMS study of tetrabromobisphenol-A 1-gen-1988 Torrisi, Alberto; Cavallaro, A; Perniciaro, A; Ferla, G; Pignataro, S. file da validare
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