SANGREGORIO, ENRICO
SANGREGORIO, ENRICO
SCIENZE CHIMICHE
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Effect of the Oxidation Process on Carrier Lifetime and on SF Defects of 4H SiC Thick Epilayer for Detection Applications
2022-01-01 Meli, Alessandro; Muoio, Annamaria; Reitano, Riccardo; Sangregorio, Enrico; Calcagno, Lucia; Trotta, Antonio; Parisi, Miriam; Meda, Laura; La Via, Francesco
Radiation Hardness Study of Silicon Carbide Sensors under High-Temperature Proton Beam Irradiations
file da validare2023-01-01 Medina, E.; Sangregorio, E.; Crnjac, A.; Romano, F.; Milluzzo, G.; Vignati, A.; Jaksic, M.; Calcagno, L.; Camarda, M.
Single-Ion Counting with an Ultra-Thin-Membrane Silicon Carbide Sensor
2024-01-01 Sangregorio, Enrico; Calcagno, Lucia; Medina, Elisabetta; Crnjac, Andreo; Jakšic, Milko; Vignati, Anna; Romano, Francesco; Milluzzo, Giuliana; De Napoli, Marzio; Camarda, Massimo
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Effect of the Oxidation Process on Carrier Lifetime and on SF Defects of 4H SiC Thick Epilayer for Detection Applications | 1-gen-2022 | Meli, Alessandro; Muoio, Annamaria; Reitano, Riccardo; Sangregorio, Enrico; Calcagno, Lucia; Trotta, Antonio; Parisi, Miriam; Meda, Laura; La Via, Francesco | |
| Radiation Hardness Study of Silicon Carbide Sensors under High-Temperature Proton Beam Irradiations | 1-gen-2023 | Medina, E.; Sangregorio, E.; Crnjac, A.; Romano, F.; Milluzzo, G.; Vignati, A.; Jaksic, M.; Calcagno, L.; Camarda, M. | file da validare |
| Single-Ion Counting with an Ultra-Thin-Membrane Silicon Carbide Sensor | 1-gen-2024 | Sangregorio, Enrico; Calcagno, Lucia; Medina, Elisabetta; Crnjac, Andreo; Jakšic, Milko; Vignati, Anna; Romano, Francesco; Milluzzo, Giuliana; De Napoli, Marzio; Camarda, Massimo |