RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Risultati 1 - 2 di 2 (tempo di esecuzione: 0.178 secondi).
Perfezionamento nei processi di fabbricazione di dispositivi a semiconduttore passivi con vetro Deposited Italy 16/1/1987 by SGS, deposition n. 19100 R/87.
file da validare1987-01-01 P., Vasquez; A., Patti; L., Gandolfi; O., Puglisi; Licciardello, Antonino; S., Pignataro
SISTEMA DI PROVA PER LA DETERMINAZIONE RAPIDA DEL LIMITE DI FATICA DEI MATERIALI
file da validare1988-01-01 Risitano, A; Geraci, A; LA ROSA, Guido; Curti, G.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Perfezionamento nei processi di fabbricazione di dispositivi a semiconduttore passivi con vetro Deposited Italy 16/1/1987 by SGS, deposition n. 19100 R/87. | 1-gen-1987 | P., Vasquez; A., Patti; L., Gandolfi; O., Puglisi; Licciardello, Antonino; S., Pignataro | file da validare |
SISTEMA DI PROVA PER LA DETERMINAZIONE RAPIDA DEL LIMITE DI FATICA DEI MATERIALI | 1-gen-1988 | Risitano, A; Geraci, A; LA ROSA, Guido; Curti, G. | file da validare |
Risultati 1 - 2 di 2 (tempo di esecuzione: 0.178 secondi).
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 6 Brevetti 2
- 6 Brevetti::6.1 Brevetto 2
Data di pubblicazione
- 1988 1
- 1987 1
Keyword
- LIMITE DI FATICA 1
- METODO TERMOGRAFICO 1
- PROVE ACCELERATE 1
Lingua
- ita 2
- eng 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 2