CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishScanning Capacitance Microscopy has been used to determine the carrier concentrationprofiles of N implanted 6H-SiC samples. The implantation dose and target temperature was chosento avoid the formation of extended defects after annealing. Thermal treatments were performeddirectly in a conventional furnace with a low ramp rate (0.05°C/s) and with a high ramp rate (200°C/s). When performing high ramp rate thermal processes before the conventional furnace a higheractivation occurs.
http://hdl.handle.net/20.500.11769/3072| Titolo: | Activation study of implanted N+ in 6H-SiC by scanning capacitance microscopy |
| Autori interni: | CALCAGNO, Lucia MUSUMECI, Paolo |
| Data di pubblicazione: | 2003 |
| Rivista: | MATERIALS SCIENCE FORUM |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11769/3072 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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