Effects of the Device Parameters and Circuit Mismatches on the Static and Dynamic Behavior of Parallel Connections of Silicon Carbide MOSFETs
Angelo Raciti
;
2018-01-01
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
PID5451735.pdf
solo gestori archivio
Descrizione: File uploaded
Tipologia:
Documento in Post-print
Licenza:
NON PUBBLICO - Accesso privato/ristretto
Dimensione
843.32 kB
Formato
Adobe PDF
|
843.32 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
Effects_of_the_Device_Parameters_and_Circuit_Mismatches_on_the_Static_and_Dynamic_Behavior_of_Parallel_Connections_of_Silicon_Carbide_MOSFETs.pdf
solo gestori archivio
Tipologia:
Versione Editoriale (PDF)
Licenza:
NON PUBBLICO - Accesso privato/ristretto
Dimensione
853.75 kB
Formato
Adobe PDF
|
853.75 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.