SIMS molecular depth profiling of polymers with polyatomic ion beams: the influence of chemistry / A. LICCIARDELLO; R. MOELLERS; V. TORRISI; N. TUCCITTO. - (2007), pp. .-.. ((Intervento presentato al convegno International SIMS Conference - SIMS XVI tenutosi a Kanazawa, Japan nel 26 Oct. - 2 Nov. 2007.
Titolo: | SIMS molecular depth profiling of polymers with polyatomic ion beams: the influence of chemistry |
Autori interni: | |
Data di pubblicazione: | 2007 |
Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11769/81324 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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