PATANE', SALVATORE
PATANE', SALVATORE
An infrared thermal measuring system for automotive
2010-01-01 Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti
An Infrared Thermal Measuring System for Automotive Applications and Reliability Improvement
2011-01-01 Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; S., Russo; D., Patti; R., Letor
Comparative reliability assessment of Planar and Trench Gate Power MOSFETs for Automotive Applications
2010-01-01 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; S., Poma; D., Patti
Lifetime estimation of Super-junction Power MOSFETs under short circuit and repeated avalanche operations
2010-01-01 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti
Reliability assessment of Low-Voltage MOSFETs driving inductive loads
2010-01-01 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; S., Poma; D., Patti
Reliability Assessment on Power MOSFETs Working in Energy Absorption Mode
2010-01-01 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Patane', Salvatore; Panarello, Saverio; S., Russo; D., Patti; S., Poma
Reliability of planar, Super-Junction and trench low voltage power MOSFETs
2010-01-01 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Russo, S; Patti, D; Poma, S; Letor, R.
Stress Analysis and Lifetime Estimation on Power MOSFETs for Automotive ABS Systems
2008-01-01 Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Letor, R; Russo, S; Poma, S; Patti, D.
Thermal stress and mechanical strain real time mapping in Intelligent Power Switches device2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD)
2014-01-01 Panarello, Saverio; Triolo, Claudia; Testa, Antonio; Patane', Salvatore; D., Patti; S., Russo
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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An infrared thermal measuring system for automotive | 1-gen-2010 | Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti | |
An Infrared Thermal Measuring System for Automotive Applications and Reliability Improvement | 1-gen-2011 | Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; S., Russo; D., Patti; R., Letor | |
Comparative reliability assessment of Planar and Trench Gate Power MOSFETs for Automotive Applications | 1-gen-2010 | Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; S., Poma; D., Patti | |
Lifetime estimation of Super-junction Power MOSFETs under short circuit and repeated avalanche operations | 1-gen-2010 | Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; D., Patti | |
Reliability assessment of Low-Voltage MOSFETs driving inductive loads | 1-gen-2010 | Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; R., Letor; S., Russo; S., Poma; D., Patti | |
Reliability Assessment on Power MOSFETs Working in Energy Absorption Mode | 1-gen-2010 | Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Patane', Salvatore; Panarello, Saverio; S., Russo; D., Patti; S., Poma | |
Reliability of planar, Super-Junction and trench low voltage power MOSFETs | 1-gen-2010 | Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Russo, S; Patti, D; Poma, S; Letor, R. | |
Stress Analysis and Lifetime Estimation on Power MOSFETs for Automotive ABS Systems | 1-gen-2008 | Testa, Antonio; DE CARO, Salvatore; Panarello, Saverio; Patane', Salvatore; Letor, R; Russo, S; Poma, S; Patti, D. | |
Thermal stress and mechanical strain real time mapping in Intelligent Power Switches device2014 IEEE 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD) | 1-gen-2014 | Panarello, Saverio; Triolo, Claudia; Testa, Antonio; Patane', Salvatore; D., Patti; S., Russo |