FIORENZA, PATRICK
FIORENZA, PATRICK
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CaCu3Ti4O12, a novel material for capacitive applications: Thin film growth and characterization
file da validare2007-01-01 Lo Nigro, R.; Toro, R. G.; Malandrino, G.; Fragala, I. L.; Fiorenza, P.; Raineri, V.
Current transport by defects in Pr2O3 high k films
file da validare2005-01-01 Fiorenza, P.; Nigro, R. L.; Raineri, V.; Lombardo, S.; Toro, R. G.; Malandrino, G.; Fragala, I. L.
Potentialities of nickel oxide as dielectric for GaN and SiC devices
file da validare2013-01-01 Nigro, R. L.; Greco, G.; Swanson, L.; Fisichella, G.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; Di Franco, S.; Bongiorno, C.; Marino, A.; Malandrino, G.; Roccaforte, F.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| CaCu3Ti4O12, a novel material for capacitive applications: Thin film growth and characterization | 1-gen-2007 | Lo Nigro, R.; Toro, R. G.; Malandrino, G.; Fragala, I. L.; Fiorenza, P.; Raineri, V. | file da validare |
| Current transport by defects in Pr2O3 high k films | 1-gen-2005 | Fiorenza, P.; Nigro, R. L.; Raineri, V.; Lombardo, S.; Toro, R. G.; Malandrino, G.; Fragala, I. L. | file da validare |
| Potentialities of nickel oxide as dielectric for GaN and SiC devices | 1-gen-2013 | Nigro, R. L.; Greco, G.; Swanson, L.; Fisichella, G.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; Di Franco, S.; Bongiorno, C.; Marino, A.; Malandrino, G.; Roccaforte, F. | file da validare |