Fondamenti e applicazioni della Spettroscopia Fotoelettronica a Raggi X (XPS) nello studio delle superfici polimeriche
Antonino Pollicino
;Giovanna Di Pasquale
;
2016-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
Fondamenti e applicazioni della Spettroscopia Fotolettronica a Raggi X (XPS) nello studio delle superfici polimeriche.pdf
solo gestori archivio
Tipologia:
Versione Editoriale (PDF)
Licenza:
NON PUBBLICO - Accesso privato/ristretto
Dimensione
2.77 MB
Formato
Adobe PDF
|
2.77 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
