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EnglishNitric oxide-assisted SIMS depth profiling of polymers with C60 primary ions / Sapuppo D; Zappalà G; Spampinato V; Tuccitto N; Raudino A. Torrisi A; Licciardello A. - (2011). ((Intervento presentato al convegno 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry – SIMS XVIII tenutosi a Riva Del Garda, Italy nel 18-23/09/2011.
| Titolo: | Nitric oxide-assisted SIMS depth profiling of polymers with C60 primary ions |
| Autori interni: | |
| Data di pubblicazione: | 2011 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11769/73111 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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