CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishNitric oxide-assisted SIMS depth profiling of polymers with C60 primary ions / Sapuppo D; Zappalà G; Spampinato V; Tuccitto N; Raudino A. Torrisi A; Licciardello A. - (2011). ((Intervento presentato al convegno 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry – SIMS XVIII tenutosi a Riva Del Garda, Italy nel 18-23/09/2011.
| Titolo: | Nitric oxide-assisted SIMS depth profiling of polymers with C60 primary ions |
| Autori interni: | |
| Data di pubblicazione: | 2011 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11769/73111 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Copyright © 2021