Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis / Noël, Céline; Tuccitto, Nunzio; Busby, Yan; Auer-Berger, Manuel; Licciardello, Antonino; List-Kratochvil, Emil J. W.; Houssiau, Laurent. - In: ACS APPLIED POLYMER MATERIALS. - ISSN 2637-6105. - 1:7(2019), pp. 1821-1828.
Titolo: | Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis |
Autori interni: | |
Data di pubblicazione: | 2019 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.11769/367293 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.