Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis

Noël, Céline; Tuccitto, Nunzio; Busby, Yan; Auer-Berger, Manuel; Licciardello, Antonino; List-Kratochvil, Emil J. W.; Houssiau, Laurent

doi:10.1021/acsapm.9b00292

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Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis / Noël, Céline; Tuccitto, Nunzio; Busby, Yan; Auer-Berger, Manuel; Licciardello, Antonino; List-Kratochvil, Emil J. W.; Houssiau, Laurent. - In: ACS APPLIED POLYMER MATERIALS. - ISSN 2637-6105. - 1:7(2019), pp. 1821-1828.

Titolo:	Depth Profiling of Organic Light-Emitting Diodes by ToF-SIMS Coupled with Wavelet–Principal Component Analysis
Autori interni:	Noël, Céline TUCCITTO, NUNZIO Busby, Yan Auer-Berger, Manuel LICCIARDELLO, Antonino List-Kratochvil, Emil J. W. Houssiau, Laurent mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2019
Rivista:	ACS APPLIED POLYMER MATERIALS
Handle:	http://hdl.handle.net/20.500.11769/367293
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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