Measurement of distance with the nanoscale precise imaging by rapid beam oscillation method
LANZANO' LPrimo
;
2012-01-01
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
Lanzano_et_al-2012-Microscopy_Research_and_Technique.pdf
solo utenti autorizzati
Tipologia:
Versione Editoriale (PDF)
Licenza:
NON PUBBLICO - Accesso privato/ristretto
Dimensione
661.85 kB
Formato
Adobe PDF
|
661.85 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.