In situ thermal evolution of B-B pairs in crystalline Si: a spectroscopic high resolution x-ray diffraction study
BRUNO, ELENA;MIRABELLA, SALVATORE;ROMANO, LUCIA;GRIMALDI, Maria Grazia
2008-01-01
File in questo prodotto:
| File | Dimensione | Formato | |
|---|---|---|---|
|
RBisognin JPCM2008.pdf
solo gestori archivio
Tipologia:
Versione Editoriale (PDF)
Licenza:
NON PUBBLICO - Accesso privato/ristretto
Dimensione
302.55 kB
Formato
Adobe PDF
|
302.55 kB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
