IANNUZZO, FRANCESCO
IANNUZZO, FRANCESCO
INGEGNERIA ELETTRICA ELETTRONICA E INFORMATICA
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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Dynamic Gate Stress: Advanced Characterization of an Automotive Grade Planar-Gate 1200 V SiC MOSFET | 1-gen-2025 | Fiore, M.; Sitta, A.; Mauromicale, G.; Calabretta, M.; Rundo, F.; Sequenzia, G.; Iannuzzo, F. | file da validare |