IANNUZZO, FRANCESCO
IANNUZZO, FRANCESCO
INGEGNERIA ELETTRICA ELETTRONICA E INFORMATICA
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Dynamic Gate Stress: Advanced Characterization of an Automotive Grade Planar-Gate 1200 V SiC MOSFET
file da validare2025-01-01 Fiore, M.; Sitta, A.; Mauromicale, G.; Calabretta, M.; Rundo, F.; Sequenzia, G.; Iannuzzo, F.
Dynamic Gate Stress: Impact of duty cycle and gate resistance on automotive grade planar-gate 1200 V SiC MOSFET
file da validare2026-01-01 Fiore, M.; Sitta, A.; Mauromicale, G.; Sequenzia, G.; Iannuzzo, F.; Calabretta, M.
Layout Impact on Current Sharing in SiC Power Modules: Modeling and Experimental Validation
file da validare2025-01-01 Spitaleri, Maria Giorgia; Iannuzzo, Francesco; Scelba, Giacomo; Cacciato, Mario; Scarcella, Giuseppe
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Dynamic Gate Stress: Advanced Characterization of an Automotive Grade Planar-Gate 1200 V SiC MOSFET | 1-gen-2025 | Fiore, M.; Sitta, A.; Mauromicale, G.; Calabretta, M.; Rundo, F.; Sequenzia, G.; Iannuzzo, F. | file da validare |
| Dynamic Gate Stress: Impact of duty cycle and gate resistance on automotive grade planar-gate 1200 V SiC MOSFET | 1-gen-2026 | Fiore, M.; Sitta, A.; Mauromicale, G.; Sequenzia, G.; Iannuzzo, F.; Calabretta, M. | file da validare |
| Layout Impact on Current Sharing in SiC Power Modules: Modeling and Experimental Validation | 1-gen-2025 | Spitaleri, Maria Giorgia; Iannuzzo, Francesco; Scelba, Giacomo; Cacciato, Mario; Scarcella, Giuseppe | file da validare |